La intercara fibra-matriz de un compuesto CMC de SiC-SiC: Comparación de imágenes SEM, TEM y AFM

Autores/as

  • M. R. Elizalde Centro de Estudios e Investigaciones Técnicas de Guipúzcoa (CEIT), E.S.I.I. (Univ. de Navarra)
  • E. Paris INSTRUMAT
  • J. Gil-Sevillano Centro de Estudios e Investigaciones Técnicas de Guipúzcoa (CEIT), E.S.I.I. (Univ. de Navarra)

DOI:

https://doi.org/10.3989/revmetalm.1998.v34.iExtra.743

Palabras clave:

AFM, SPM, CMC, TEM, SEM, Intercara, Fibras, Matriz, Caracterización microscópica

Resumen


Se comparan los resultados de tres técnicas de microscopía, SEM, TEM y AFM, aplicadas a resolver la zona de interfase carbonosa fibras-matriz de un material compuesto de matriz cerámica (CMC) reforzado con fibras continuas, SiC/C/SiC, fabricado por infiltración en fase gaseosa (CVI). La capa de interfase tiene un espesor entre 100 y 200 nm y es vital para que la tenacidad del compuesto sea correcta.

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Publicado

1998-05-30

Cómo citar

Elizalde, M. R., Paris, E., & Gil-Sevillano, J. (1998). La intercara fibra-matriz de un compuesto CMC de SiC-SiC: Comparación de imágenes SEM, TEM y AFM. Revista De Metalurgia, 34(Extra), 226–231. https://doi.org/10.3989/revmetalm.1998.v34.iExtra.743

Número

Sección

Artículos