Microscopía de reflectancia multiespectral: Aplicación al reconocimiento automatizado de menas metálicas

Juan Carlos Catalina; Ricardo Castroviejo

doi:10.3989/revmetalm.107

Autores/as

Juan Carlos Catalina Laboratorio de Microscopía Aplicada y Análisis de Imagen, ETSI Minas y Energía (UPM) https://orcid.org/0000-0002-6071-633X
Ricardo Castroviejo ETSI Minas y Energía (Universidad Politécnica de Madrid, UPM) https://orcid.org/0000-0003-2371-309X

DOI:

https://doi.org/10.3989/revmetalm.107

Palabras clave:

Análisis de imagen, Geometalurgia, Menas metálicas, Microscopía óptica, Reflectancia multiespectral

Resumen

El artículo presenta el sistema CAMEVA, un sistema de microscopía de reflectancia multiespectral especialmente concebido para facilitar la identificación y caracterización de las fases minerales presentes en preparaciones pulidas de menas metálicas, así como para automatizar la realización de distintos tipos de análisis cuantitativos sobre ellas. El sistema CAMEVA permite obtener resultados similares a los de un sistema MEB (microscopía electrónica de barrido), superando algunas de sus limitaciones, como sus rígidas y costosas exigencias de infraestructura y especialización o la dificultad de distinguir especies polimorfas, pero a un coste notablemente inferior. Los ensayos realizados muestran que el sistema permite la identificación automatizada y fiable de las menas de interés industrial, a partir de la información multiespectral en el rango VNIR (visible e infrarrojo cercano, entre 400 y 1000 nm) recogida en una base de datos específica; esta base de datos, que incluye los 70 minerales de mayor interés, es fácilmente ampliable.

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